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    位置：標準分享網>無損檢測論文>EN 14784-2與ISO 17636-2標準中CR技術要求的比較
    
   
    
      
    
         
    EN 14784-2與ISO 17636-2標準中CR技術要求的比較
    
        
      
    
      
    
        
    
           
    
		   
    
            
			
    
              
    
                  
      
				                      
    • 資料大小：
      • 
                    
    • 更新時間：
      2015-02-20
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    • 授權方式：
      共享學習
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    • 資料格式：
      PDF
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    對EN 14784-2標準與ISO 17636-2標準在計算機射線照相（CR）技術要求方面的差異提出分析，包括像質計的使用，系統不清晰度、最小信噪比、靈敏度補償、最高電壓圖、觀測條件、最小讀出強度及最小灰度等方面內容。經過比較得出結論，在對CR技術的要求上，ISO 17636-2標準不管在理論還是概念上,均較EN 14784-2更為合理、靈活，更易為檢測人員接受和理解，更適應現實設備及工作需要。
    所屬欄目
    標準化
    收稿日期
    2015/2/20
    作者單位
    李亞軍:珠海市質量計量監督檢測所， 珠海 519000
    吳勇:蘇閥福斯核電設備（蘇州）有限公司， 蘇州 215151
    駱亍:珠海市質量計量監督檢測所， 珠海 519000

    備注
    李亞軍(1980-),男,工學學士,助理工程師,主要從事無損檢測工作。
    引用該論文:
    LI Ya-jun,WU Yong,LUO Chu.The Comparison of CR Technology Requirements between EN 14784-2 and ISO 17636-2 Standard[J].Nondestructive Testing,2015,37(12):56～58
    李亞軍,吳勇,駱亍.EN 14784-2與ISO 17636-2標準中CR技術要求的比較[J].無損檢測,2015,37(12):56～58
                    
    參考文獻
    【1】
    王軍，強天鵬，鄭凱.從ISO 17636-2標準看數字射線檢測技術的發展趨勢［J］.無損檢測， 2012,34(12):33-36.           
    
          
    
           
    標準分享網無損檢測論文頻道,免費下載【EN 14784-2與ISO 17636-2標準中CR技術要求的比較】,僅供學習使用,不得商用,如需商用請購買正版EN 14784-2與ISO 17636-2標準中CR技術要求的比較。謝謝合作		   
    【關鍵詞】
		技術要求 差異 CR技術  李亞軍 吳勇 駱亍			  
    
           
    
          
    		          
      
    
         
    
            
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