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    位置：標準分享網>無損檢測論文>IC10單晶高溫合金葉片熒光滲透檢測的缺陷顯示
    
   
    
      
    
         
    IC10單晶高溫合金葉片熒光滲透檢測的缺陷顯示
    
        
      
    
      
    
        
    
           
    
		   
    
            
			
    
              
    
                  
      
				                      
    • 資料大小：
      • 
                    
    • 更新時間：
      2016-07-10
      • 
                    
    • 授權方式：
      共享學習
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    • 資料格式：
      PDF
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    資料簡介
    
            
    
         
         
    
            
    
               
    
                 
    
                    
    
                 
    
              
    
            
    
           
    
           
    對IC10單晶高溫合金導向葉片熒光滲透檢測的缺陷熒光顯示進行了分析，確定了缺陷性質主要為顯微疏松缺陷；通過對比試驗獲取了航空發動機渦輪葉片常用的滲透檢測靈敏度等級和方法的特點和區別。試驗結果表明：采用后乳化熒光滲透檢測法對IC10單晶高溫合金導向葉片缺陷的檢出更為合適。
    所屬欄目
    試驗研究
    收稿日期
    2016/7/10
    作者單位
    王樹志:中航工業北京航空材料研究院 航空材料檢測與評價北京市重點實驗室 材料檢測與評價航空科技重點實驗室, 北京 100095
    劉廣華:中航工業北京航空材料研究院 航空材料檢測與評價北京市重點實驗室 材料檢測與評價航空科技重點實驗室, 北京 100095
    王本志:北京百慕航材高科股份有限公司, 北京 100094
    王東:中航工業北京航空材料研究院 航空材料檢測與評價北京市重點實驗室 材料檢測與評價航空科技重點實驗室, 北京 100095
    馬瀟:中航工業北京航空材料研究院 航空材料檢測與評價北京市重點實驗室 材料檢測與評價航空科技重點實驗室, 北京 100095

    聯系人作者
    王樹志(wsz_000411@qq.com)
    備注
    王樹志(1980-),男,高級工程師,主要從事磁粉和滲透檢測方面的研究工作。
    引用該論文:
    WANG Shu-zhi,LIU Guang-hua,WANG Ben-zhi,WANG Dong,MA Xiao.The Defect Indication of Fluorescent Penetrating Inspection for IC10 Single Crystal Super Alloy Blade[J].Nondestructive Testing,2017,39(1):35～37
    王樹志,劉廣華,王本志,王東,馬瀟.IC10單晶高溫合金葉片熒光滲透檢測的缺陷顯示[J].無損檢測,2017,39(1):35～37
                    
    參考文獻
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    劉曉娜,劉金合,康文軍,等. 新型高溫合金IC10的焊接研究進展[J].熱加工工藝,2008,37(3):101-103.
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    【3】
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    【5】
    趙希宏,黃朝暉,譚永寧,等. IC10高溫合金的微觀組織[J].航空材料學報,2008,28(3):28-33.
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    【關鍵詞】
		滲透檢測 單晶 高溫合金 缺陷 熒光顯示  王樹志 劉廣華 王本志 王東 馬瀟			  
    
           
    
          
    		          
      
    
         
    
            
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