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    超聲相控陣圖像中的缺陷識(shí)別算法
    • 資料大小:

    • 更新時(shí)間:

      2018-02-26

    • 授權(quán)方式:

      共享學(xué)習(xí)

    • 資料格式:

      PDF

    • 軟件等級(jí):

    • 官方主頁(yè):

      http://www.bellesmontres.cn

    資料簡(jiǎn)介

    超聲相控陣圖像的缺陷處理目前停留在人眼觀察和人工標(biāo)識(shí)的階段。提出了一種自動(dòng)識(shí)別超聲相控陣缺陷圖像的算法過(guò)程。該算法分為預(yù)處理、圖像濾波、特征提取和多目標(biāo)缺陷跟蹤等步驟。通過(guò)分析目標(biāo)缺陷軌跡的相關(guān)參數(shù),結(jié)合目標(biāo)缺陷自身的面積等信息來(lái)綜合判斷目標(biāo)缺陷是否為實(shí)際缺陷。對(duì)帶孔金屬鋁試塊進(jìn)行的測(cè)試檢驗(yàn)了算法和程序的正確性,獲得了很好的缺陷跟蹤和識(shí)別效果。

    所屬欄目

    試驗(yàn)研究

    收稿日期

    2018/2/26

    作者單位

    費(fèi)學(xué)智:甘肅藍(lán)科石化高新裝備股份有限公司, 蘭州 730070
    吳軍芳:國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局專利局 專利審查協(xié)作河南中心, 鄭州 450002
    柳銘哲:北京交通大學(xué) 理學(xué)院物理系, 北京 100044
    張博南:國(guó)標(biāo)(北京)檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司, 北京 100088
    李健:甘肅藍(lán)科石化高新裝備股份有限公司, 蘭州 730070
    吳迪:北京交通大學(xué) 理學(xué)院物理系, 北京 100044
    滕永平:北京交通大學(xué) 理學(xué)院物理系, 北京 100044
    席鵬:甘肅藍(lán)科石化高新裝備股份有限公司, 蘭州 730070

    聯(lián)系人作者

    吳軍芳(wujunfang@sipo.gov.cn)

    備注

    費(fèi)學(xué)智(1982-),男,工程師,本科,主要從事無(wú)損檢測(cè)工作

    引用該論文:

    FEI Xuezhi,WU Junfang,LIU Mingzhe,ZHANG Bonan,LI Jian,WU Di,TENG Yongping,XI Peng.Defect Recognition Algorithm in Ultrasonic Phased Array Image[J].Nondestructive Testing,2018,40(8):61~66
    費(fèi)學(xué)智,吳軍芳,柳銘哲,張博南,李健,吳迪,滕永平,席鵬.超聲相控陣圖像中的缺陷識(shí)別算法[J].無(wú)損檢測(cè),2018,40(8):61~66


    參考文獻(xiàn)

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    【關(guān)鍵詞】 超聲相控陣 圖像處理 缺陷識(shí)別  費(fèi)學(xué)智 吳軍芳 柳銘哲 張博南 李健 吳迪 滕永平 席鵬

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